X 射线衍射法：通过分析晶体的衍射图谱，确定位错的密度和类型。
电子显微镜法：直接观察位错的形态和分布。
化学腐蚀法：利用腐蚀剂在位错处的优先腐蚀，显示位错的位置。
电阻测量法：根据位错对材料电阻的影响，测量位错密度。
光学金相法：通过显微镜观察材料的金相组织，间接判断位错的存在。
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中析研究所
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