电子显微镜观察：通过电子显微镜直接观察材料中的位错源。
X 射线衍射分析：利用 X 射线衍射技术分析材料的晶体结构，间接推断位错源的存在。
原子力显微镜：用于检测材料表面的微观结构，包括位错源。
透射电子显微镜：可以提供高分辨率的位错源图像。
扫描隧道显微镜：可用于检测位错源的位置和形态。
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中析研究所
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