电子显微镜检测法：利用电子显微镜对样品进行观察，可直接观察到位错的形态和分布。
X 射线衍射检测法：通过 X 射线衍射图谱分析，确定位错的存在和类型。
原子力显微镜检测法：可以在位错表面进行高分辨率的成像。
光学显微镜检测法：在特定条件下，可观察到一些位错的特征。
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中析研究所
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