X 射线衍射仪：用于分析晶体结构和晶格参数。
电子显微镜：可以观察晶体的微观结构和形貌。
红外光谱仪：用于检测晶体中的化学键和官能团。
热重分析仪：用于分析晶体的热稳定性和分解过程。
差示扫描量热仪：可以测量晶体的相变温度和热焓。
拉曼光谱仪：用于研究晶体的分子振动和结构。
原子力显微镜：可以观察晶体表面的形貌和结构。
硬度计：用于测量晶体的硬度。
折射率仪：用于测量晶体的折射率。
荧光光谱仪：用于检测晶体的荧光特性。
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中析研究所
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