X 射线衍射仪：利用 X 射线衍射技术，通过测量晶体结构的变化来确定微观残余应力。
中子衍射仪：适用于测量大块材料中的微观残余应力。
电子背散射衍射仪（EBSD）：可用于分析晶体取向和微观残余应力。
激光拉曼光谱仪：通过测量材料的拉曼散射光谱来评估微观残余应力。
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中析研究所
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