扫描电子显微镜（SEM）：用于观察样品表面的微观结构和形貌。
透射电子显微镜（TEM）：可提供更高分辨率的微观结构信息。
原子力显微镜（AFM）：测量样品表面的形貌和力学性质。
X 射线衍射（XRD）：分析晶体结构和相组成。
能量色散 X 射线光谱（EDS）：确定样品中元素的种类和含量。
傅里叶变换红外光谱（FTIR）：分析样品中的化学键和官能团。
拉曼光谱：提供关于分子振动和结构的信息。
荧光光谱：研究样品的荧光特性。
热重分析（TGA）：测量样品在加热过程中的质量变化。
差示扫描量热法（DSC）：分析样品的热性能。
