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1. 测量尺:用于测量长方体的长度、宽度和高度。
2. 光谱仪:用于分析长方体的材料成分和色彩特性。
3. 数字天平:用于精确测量长方体的质量。
4. 卷尺:用于测量长方体的周长。
5. 表面粗糙度仪:用于测量长方体表面的光滑度和粗糙度。
中析研究所可进行各种检测分析服务,包括不限于:标准试验,非标检测,分析测试,认证设计,产品验收,质量内控,矢量分析,内部控制,司法鉴定等。可出具合法合规、具有公信力的第三方检测报告。