原子力显微镜（AFM）：可以用于检测外延堆垛层错的形貌和高度信息。
X 射线衍射（XRD）：可以分析外延层的晶体结构和堆垛层错的类型。
透射电子显微镜（TEM）：能够提供高分辨率的图像，用于直接观察外延堆垛层错的结构。
扫描电子显微镜（SEM）：可用于观察外延层的表面形貌和堆垛层错的分布。
拉曼光谱仪：可以分析外延层的晶体质量和堆垛层错的特征。
全站搜索
中析研究所
- 北京总部: 北京市丰台区航丰路8号院1号楼1层121
- 山东分部: 山东省济南市历城区唐冶绿地汇中心36号楼
- 联系在线工程师
- 网站首页 : https://www.yjsshier.com/