X 射线衍射法：用于检测外延层的晶体结构和晶格参数。
扫描电子显微镜：可观察外延层的表面形貌和微观结构。
光致发光谱：分析外延层的发光特性。
霍尔效应测试：测量外延层的电学性质，如载流子浓度和迁移率。
二次离子质谱：检测外延层中的杂质分布。
全站搜索
中析研究所
- 北京总部: 北京市丰台区航丰路8号院1号楼1层121
- 山东分部: 山东省济南市历城区唐冶绿地汇中心36号楼
- 联系在线工程师
- 网站首页 : https://www.yjsshier.com/