未填满壳层检测通常用于分析物质的电子结构和化学性质。
X 射线光电子能谱（XPS）：测量元素的内层电子结合能，提供关于未填满壳层的信息。
俄歇电子能谱（AES）：用于分析表面元素的化学状态和未填满壳层。
紫外光电子能谱（UPS）：研究材料的价带结构和未填满壳层。
电子顺磁共振（EPR）：检测未配对电子，提供有关未填满壳层的信息。
磁共振成像（MRI）：通过原子核的磁共振信号来分析未填满壳层。
荧光光谱：研究物质的荧光特性，间接反映未填满壳层的情况。
拉曼光谱：提供关于分子振动和未填满壳层的信息。
红外光谱：分析分子的振动模式和化学键，与未填满壳层相关。
穆斯堡尔谱：用于研究铁等元素的未填满壳层。
同步辐射光电子能谱（SRPES）：具有高能量分辨率，可详细分析未填满壳层。
光电子能谱显微镜（PEEM）：实现空间分辨的未填满壳层检测。
扫描隧道显微镜（STM）：可直接观察表面的未填满壳层。
原子力显微镜（AFM）：提供表面形貌和未填满壳层的信息。
二次离子质谱（SIMS）：用于表面成分分析，包括未填满壳层。
电感耦合等离子体质谱（ICP-MS）：分析元素的含量和未填满壳层。
激光诱导击穿光谱（LIBS）：快速检测元素组成和未填满壳层。
质子激发 X 射线发射（PIXE）：用于元素分析和未填满壳层检测。
电子能量损失谱（EELS）：提供材料的电子结构信息，包括未填满壳层。
X 射线吸收精细结构（XAFS）：研究元素的局部结构和未填满壳层。
X 射线衍射（XRD）：分析晶体结构，间接反映未填满壳层。
中子衍射：用于研究物质的结构和未填满壳层。
正电子湮没谱（PAS）：提供有关缺陷和未填满壳层的信息。
低温比热测量：通过测量低温下的比热，了解未填满壳层的贡献。
磁化率测量：用于研究磁性材料的未填满壳层。
电导率测量：分析材料的电导特性，与未填满壳层相关。
热导率测量：提供关于材料热传导性能和未填满壳层的信息。
光学吸收测量：研究物质对光的吸收，与未填满壳层有关。
发射光谱：检测物质的发射特性，反映未填满壳层的情况。
量子效率测量：用于评估光电器件的性能，与未填满壳层相关。
电荷转移测量：研究电荷在材料中的转移过程，涉及未填满壳层。
能带结构计算：通过理论计算预测未填满壳层的存在和性质。
分子动力学模拟：模拟分子的行为，包括未填满壳层的影响。
