整体模型检测-检测仪器
1. 三坐标测量机
三坐标测量机是一种能够测量物体三维坐标的仪器,它通过激光或触发测头等方式对物体进行扫描,然后根据扫描数据计算出物体的三维坐标信息。三坐标测量机可用于测量物体的尺寸、形状、位置等参数。
2. 光谱仪
光谱仪是一种能够测量物体的光谱信息的仪器,它通过分析物体发出或通过的光的波长和强度,获取物体的光谱数据。光谱仪可用于分析物质的化学成分、光学特性等。
3. 热分析仪
热分析仪是一种能够测量物质热性能的仪器,它通过加热样品并观察样品的温度变化,以对样品的热稳定性、热传导性、热膨胀等性能进行分析。热分析仪可用于材料研发、质量控制等领域。
4. 扫描电子显微镜
扫描电子显微镜(SEM)是一种能够对物体进行高分辨率表面成像的仪器,它利用电子束扫描样品表面,并通过探测器捕捉电子反射或放射出的信号,以获取样品表面的形貌、结构等信息。扫描电子显微镜可用于材料科学、生物学等领域的表面分析。
5. 质谱仪
质谱仪是一种能够分析物质的化学成分及分子结构的仪器,它通过将样品中的化合物离子化,并根据离子的质量-电荷比进行分选和检测,以获取物质的质谱图谱。质谱仪可用于有机化学、药物研发等领域。