锗片检测主要应用于半导体行业和光学行业中的锗片产品，用于测试其质量和性能。
常见的锗片检测范围包括但不限于：
1. 尺寸测量：对锗片的长度、宽度、厚度等尺寸进行测量，以验证其是否符合规定的要求。
2. 表面质量检测：检查锗片表面是否平整、光洁，并排除表面缺陷如划痕、气泡、污染等。
3. 光学性能测量：包括折射率、透过率、反射率等光学参数的测量，用于判断锗片的光学性能是否合格。
4. 维度稳定性检测：测试锗片在不同温度和湿度条件下的尺寸变化情况，以评估其维度稳定性。
5. 结构完整性检测：检查锗片是否存在裂纹、剥落等结构问题，以确保其完整性。
6. 光谱特性测量：对锗片的红外透过率、吸收光谱等进行测试，以验证其适用于红外光学应用。
7. 电学性能测量：包括电阻率、载流子浓度等电学参数的测量，用于评估锗片的电学特性。
