显微镜：用于观察和分析晶种的外观形态、颜色和结构特征。
电子显微镜（SEM）：通过高分辨率的成像技术，可以对晶种的表面形貌和微观结构进行详细观察和分析。
光谱仪：可用于分析晶种的光谱特征，包括紫外-可见吸收光谱、红外光谱、拉曼光谱等。
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中析研究所
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