1. X射线荧光光谱仪：用于非破坏性分析元素成分；利用元素吸收和发射X射线特性，对样品进行化学分析。
2. 原子吸收光谱仪：用于分析元素浓度；利用元素原子的吸收特性，测定样品中元素的浓度。
3. 等离子体质谱仪：用于分析元素及其同位素组成；利用电离气体中的元素或化合物，通过等离子体的产生和质谱的测定，进行元素或同位素的分析。
4. 扫描电子显微镜（SEM）：用于观察样品表面形貌和粒度分布；利用电子束与样品相互作用，生成信号后通过显微镜进行放大和检测。
5. 电感耦合等离子体发射光谱仪（ICP-OES）：用于分析元素浓度；利用气体等离子体激发样品中的元素，通过光谱测定元素的浓度。
