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枝晶带检测-检测仪器

1. 光学显微镜:用于观察和分析枝晶带的形态和分布情况。

2. 扫描电子显微镜(SEM):能够高分辨率地观察枝晶带的形貌,以及检测枝晶带的大小和密度。

3. X射线衍射仪(XRD):通过测量材料的晶面衍射,确定晶体的结构和晶格参数,用于分析枝晶带的晶体结构。

4. 电子探针(EPMA):可以定性和定量分析枝晶带中各种元素的含量和分布情况。

5. 透射电子显微镜(TEM):通过在枝晶带中的纳米尺度上观察和分析,揭示其微观结构和相变行为。

枝晶带检测-检测仪器
其他检测

中析研究所可进行各种检测分析服务,包括不限于:标准试验,非标检测,分析测试,认证设计,产品验收,质量内控,矢量分析,内部控制,司法鉴定等。可出具合法合规、具有公信力的第三方检测报告。