电子显微镜法：利用电子束穿透样品，通过电子透镜系统成像，可检测纳米级别的结构和形貌。
X 射线透射成像：使用 X 射线穿透样品，根据不同物质对 X 射线的吸收差异形成图像，适用于检测较厚的样品。
中子透射成像：利用中子束穿透样品，通过中子与原子核的相互作用成像，对轻元素和同位素敏感。
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中析研究所
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