检测项目
纯度检测：HfO(OH)₂≥99.5%，金属杂质总量≤200ppm
粒径分布：D50值0.8-1.2μm，D90≤2.5μm（激光衍射法）
水分含量：游离水≤0.8%，结晶水理论值12.3±0.5%
杂质元素：Al≤50ppm，Fe≤30ppm，Cl⁻≤100ppm
热稳定性检测：300℃煅烧失重率≤15%，相变温度≥450℃
检测范围
高纯氢氧化铪粉末（纯度≥99.9%）
核级锆铪合金前驱体材料
介电陶瓷材料前驱体（HfO₂基）
催化剂载体用纳米氢氧化铪
光学镀膜原料（低氯离子型）
检测方法
纯度检测：GB/T 25934.3-2010 X射线衍射定量分析
粒径分析：ISO 13320-2020激光衍射法
元素检测：ASTM E1614-18 ICP-MS痕量元素测定
热稳定性：GB/T 13464-2008热重-差热联用技术
氯离子检测：ISO 7391-2:2017离子色谱法
检测设备
X射线衍射仪：Rigaku SmartLab，θ-2θ扫描，精度0.0001°
激光粒度仪：Malvern Mastersizer 3000，测量范围0.01-3500μm
热分析系统：NETZSCH STA 449 F5，升温速率0.1-50℃/min
等离子体质谱仪：Agilent 8900 ICP-MS，检出限0.1ppb
离子色谱仪：Thermo Scientific Dionex ICS-600，电导检测器精度±0.1nS/cm
北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】
报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期：7~15工作日，可加急。
资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试：支持定制化试验方案。
售后：报告终身可查，工程师1v1服务。
