检测项目
晶格常数测定（a轴误差≤0.002Å，c轴误差≤0.005Å）
晶面间距偏差检测（±0.1%允许公差）
六方密堆积对称性验证（角度偏差≤0.05°）
晶格畸变率分析（三维应变梯度＜1×10⁻³）
层错缺陷密度检测（分辨率达10⁵ cm⁻²）
检测范围
金属材料：钛合金、镁合金等轻量化结构材料
陶瓷材料：氧化铝、碳化硅等高温结构陶瓷
半导体材料：砷化镓、氮化镓等III-V族化合物
矿物晶体：方解石、赤铁矿等天然晶体
功能材料：压电陶瓷、超硬涂层等先进材料
检测方法
X射线衍射法：ASTM E2860-12（晶格参数测定）
电子背散射衍射：ISO 24173:2009（晶体取向分析）
高分辨透射电镜：GB/T 39489-2020（缺陷表征）
拉曼光谱分析：GB/T 36065-2018（应力分布检测）
同步辐射表征：ISO 15632:2021（三维结构重建）
检测设备
Bruker D8 ADVANCE X射线衍射仪（0.0001°角度分辨率）
FEI Nova NanoSEM 450场发射扫描电镜（1nm分辨率）
JEOL JEM-ARM300F球差校正透射电镜（0.08nm点分辨率）
Renishaw inVia Qontor显微拉曼系统（空间分辨率0.5μm）
Oxford Symmetry EBSD探测器（全自动菊池花样采集）
北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】
报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期：7~15工作日，可加急。
资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试：支持定制化试验方案。
售后：报告终身可查，工程师1v1服务。
