检测项目
1. 粒度分布测定：测量0.1μm-3500μm范围内的体积/数量分布
2. D10/D50/D90值分析：表征累积分布10%、50%、90%处的特征粒径
3. 比表面积测试：采用BET法测定0.01-2000 m²/g比表面积范围
4. 颗粒形貌表征：圆形度（0-1）、长径比（≥1）等几何参数
5. Zeta电位测定：分析-200mV至+200mV范围内颗粒表面电荷特性
检测范围
1. 金属粉末：钛合金粉、钨粉等增材制造原料
2. 陶瓷原料：氧化铝、碳化硅等研磨介质
3. 制药颗粒：片剂崩解剂、API原料药微粒
4. 涂料填料：纳米二氧化钛、碳酸钙分散体系
5. 环境样品：大气PM2.5/PM10颗粒物、土壤沉积物
检测方法
1. 激光衍射法：ISO 13320-1:2020《粒度分析-激光衍射法》
2. 动态光散射法：GB/T 19627-2023《粒度分析-光子相关光谱法》
3. 筛分分析法：ASTM B214-22《金属粉末筛分标准试验方法》
4. 图像分析法：ISO 13322-2:2021《静态图像分析法》
5. 气体吸附法：GB/T 19587-2017《气体吸附BET法测定固态物质比表面积》
检测设备
1. 马尔文 Mastersizer 3000：激光衍射仪，测量范围10nm-3.5mm
2. 贝克曼库尔特LS 13 320：超声增强型湿法粒度分析仪
3. 麦克默瑞提 TriStar II Plus：全自动比表面及孔隙度分析仪
4. FEI Helios G4 UX：场发射扫描电镜（配EDAX能谱）
5. 布鲁克 Dimension Icon：原子力显微镜（AFM）三维形貌分析
6. 岛津SALD-7500nano：纳米粒度及Zeta电位联用系统
7. Retsch AS200 control：全自动振动筛分仪（8级筛网）
8. Horiba Partica LA-960V2：激光散射/图像复合分析系统
9. Sympatec HELOS/RODOS：干法分散激光衍射系统
10. Micromeritics Saturn DigiSizer 5200：高精度数字成像粒度仪
北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】
报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期：7~15工作日，可加急。
资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试：支持定制化试验方案。
售后：报告终身可查，工程师1v1服务。
