硅铁硅铁粒检测
检测项目
1. 主元素含量:Si≥70%(质量分数),Fe≤25%,采用差量法计算
2. 碳元素测定:C≤0.20%,高频红外碳硫仪分析
3. 磷元素限量:P≤0.040%,钼蓝分光光度法测定
4. 硫元素控制:S≤0.030%,红外吸收法检测
5. 粒度分布:0.2-10mm颗粒占比≥90%,激光粒度仪测试
6. 表观密度:≥3.2g/cm³,振实密度仪测量
7. 游离二氧化硅:≤1.5%,X射线衍射定量分析
检测范围
1. 铸造用硅铁粒(牌号FeSi75-A)
2. 炼钢用硅铁块(牌号FeSi72-B)
3. 金属镁冶炼还原剂(粒径3-30mm)
4. 焊条涂层用微粉(200-325目)
5. 特种合金添加剂(低铝型FeSi65-Al0.5)
6. 球墨铸铁孕育剂(Ca/Sr复合处理型)
7. 光伏级高纯硅原料(Si≥99%)
检测方法
1. GB/T 2272-2020《硅铁化学分析方法》
2. ASTM E1019-18《钢中碳硫测定标准方法》
3. ISO 439:2020《硅铁合金-硅含量测定-重量法》
4. GB/T 4333.8-2022《硅铁化学分析第8部分:磷含量的测定》
5. ISO 4689:2023《铁合金-硫含量的测定-红外线吸收法》
6. GB/T 13247-2019《铁合金产品粒度的取样和检测方法》
7. ASTM B214-22《金属粉末筛分粒度标准试验方法》
检测设备
1. Thermo Scientific ARL 4460直读光谱仪:多元素同步定量分析
2. HORIBA EMIA-920V2高频红外碳硫仪:ppm级精度测量
3. Malvern Mastersizer 3000激光粒度仪:0.01-3500μm测量范围
4. Shimadzu XRD-7000 X射线衍射仪:物相组成定量分析
5. Quantachrome Ultrapyc 5000真密度仪:氦气置换法密度测量
6. Agilent 5110 ICP-OES电感耦合等离子体发射光谱仪:痕量元素检测
7. Retsch AS200 control振动筛分机:20μm-25mm分级筛分
8. Mettler Toledo XPR205DR微量天平:0.01mg精度称量
9. Eltra CS-2000氧氮氢分析仪:气体元素联测系统
10. Labthink FBT-9振实密度测试仪:自动振实频率控制
北京中科光析科学技术研究所【简称:中析研究所】
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。