1. 金相显微镜：用于观察和分析金属材料的显微组织结构，检测预制异形支架的晶粒尺寸、晶粒形态等。
2. 光谱仪：用于分析支架材料的化学成分，检测预制异形支架的元素含量以及是否符合标准要求。
3. 三坐标测量仪：通过测量支架的几何尺寸和形状，保证预制异形支架的几何形状符合设计要求。
4. 超声波探伤仪：用于检测预制异形支架的内部缺陷，通过超声波的反射和衍射来检测材料的腐蚀、裂纹等缺陷。
5. 磁粉探伤仪：用于检测预制异形支架的表面和近表面的裂纹和缺陷，通过磁粉颗粒的吸附来显示和识别缺陷。
6. 扫描电子显微镜(SEM)：可对支架的表面形貌及微观结构进行观察和分析，检测支架的表面粗糙度、疲劳裂纹等。
