光学显微镜：用于观察和分析样品的外部形态和结构。
扫描电子显微镜（SEM）：通过扫描样品表面，利用电子束形成的高分辨率图像，获得样品的形态、结构和表面形貌信息。
透射电子显微镜（TEM）：通过透射电子束，观察和分析样品的内部结构、晶体结构、组成和缺陷。
原子力显微镜（AFM）：利用微尺度探针与样品表面之间的相互作用力来获得样品的表面形貌、力学性质和电子性质信息。
X射线衍射分析仪：通过照射样品，并测量衍射光的方向、强度和角度，得到材料的晶体结构和晶体相信息。
拉曼光谱仪：利用样品中分子振动引起的光散射现象，获得样品的结构与化学组成信息。
