1. 扫描电镜（SEM）：扫描电镜是一种能够观察样品微观形貌和表面结构的仪器。通过SEM可以获取载模体表面的高分辨率图像，从而分析样品的表面形态和微观结构。
2. 原子力显微镜（AFM）：原子力显微镜是一种能够观察样品表面的原子尺度结构的仪器。通过AFM可以测量样品的表面形貌、表面粗糙度以及表面力学性质等。
3. 红外光谱仪（FTIR）：红外光谱仪是一种能够测量样品中分子振动和转动信息的仪器。通过FTIR可以分析载模体的化学成分、材料结构和化学键的特性。
4. X射线衍射仪（XRD）：X射线衍射仪是一种能够分析样品晶体结构的仪器。通过XRD可以确定载模体中的结晶相、晶格常数和晶体形态等。
5. 热重分析仪（TGA）：热重分析仪是一种能够测量样品在不同温度下质量变化的仪器。通过TGA可以分析载模体的热稳定性、热分解特性和热失重过程等。
