1. 金相显微镜：用于检测云母屏蔽片的微观结构和表面形貌。
2. 扫描电子显微镜（SEM）：通过扫描电子束对云母屏蔽片进行高分辨率的表面形貌和结构分析。
3. X射线衍射仪（XRD）：用于确定云母屏蔽片晶体结构和物相组成。
4. 热重分析仪（TGA）：通过测量云母屏蔽片在不同温度下的质量变化，了解其热稳定性。
5. 红外光谱仪（IR）：通过测量云母屏蔽片的红外吸收谱图，分析其化学成分和结构特征。
6. 晶体偏光显微镜：通过观察云母屏蔽片在偏光下的光学性质，判断其晶体结构和取向。
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中析研究所
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