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1. 数显卡尺:用于测量线段、圆柱、孔的长度。
2. 卷尺:用于测量较长的线段、圆柱的长度。
3. 光栅尺:用于精密测量,并可测量线段或平面的位移、角度等参数。
4. 激光测距仪:通过激光技术,可实现远距离、高精度的长度测量。
5. 遥感测量仪:适用于测量较大范围内的长度和面积,通过遥感技术进行测量。
中析研究所可进行各种检测分析服务,包括不限于:标准试验,非标检测,分析测试,认证设计,产品验收,质量内控,矢量分析,内部控制,司法鉴定等。可出具合法合规、具有公信力的第三方检测报告。