正型检测是一种用于确定材料晶体结构的方法。它通常用于金属、陶瓷和半导体材料的研究和分析。
正型检测的步骤如下：
1. 样品的制备：将待测材料制备成符合要求的样品，通常是薄膜、粉末或单晶。
2. X射线衍射测量：将样品放置在X射线衍射仪中，通过对样品照射X射线后测量衍射的角度和强度，得到样品的衍射图谱。
3. 数据分析：根据衍射图谱，利用衍射峰的位置和强度，以及晶胞参数等信息，分析样品的晶体结构类型和晶格常数。
4. 结果表达：将分析得到的晶体结构和晶格常数等结果进行总结和表达。
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