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光学显微镜:用于观察材料的表面形貌和晶粒的分布情况。
扫描电子显微镜(SEM):用于观察材料的表面形貌和晶粒的分布情况,可以获取更高清晰度的显微图像。
透射电子显微镜(TEM):用于观察材料的内部结构和晶体缺陷,可以得到高分辨率的显微图像。
X射线衍射仪(XRD):用于分析材料的晶体结构和晶胞参数。
电子背散射衍射仪(EBSD):用于分析材料的晶体结构和晶界取向。
中析研究所可进行各种检测分析服务,包括不限于:标准试验,非标检测,分析测试,认证设计,产品验收,质量内控,矢量分析,内部控制,司法鉴定等。可出具合法合规、具有公信力的第三方检测报告。