1. 光学显微镜：用于观察样品表面的细微结构，检测样品表面是否存在正交曲面。
2. 扫描电子显微镜（SEM）：能够以高分辨率和高放大倍数观察样品的表面形貌，并进行形貌分析，用于检测正交曲面的微观形态。
3. 原子力显微镜（AFM）：通过探针与样品表面的相互作用，可以获取样品表面的纳米级形貌信息，用于检测正交曲面的微观形貌。
4. 光顺度测试仪：用于测量样品表面的光顺度，检测正交曲面的表面粗糙度。
5. X射线衍射仪：通过样品对入射X射线的衍射模式，分析样品的晶体结构，用于检测正交曲面的晶体结构。
6. 弹簧测力计：用于测量在样品表面施加压力时的变形程度，用于检测正交曲面的强度和硬度。
