直接耦合检测-检测项目
直接耦合检测是一种用于分析化学物质的检测方法,主要应用于环境监测、食品安全、药物研发等领域。具体的检测项目包括:
高效液相色谱-质谱联用(HPLC-MS):结合高效液相色谱和质谱仪,用于分析和定量分离样品中的化合物。
气相色谱-质谱联用(GC-MS):结合气相色谱和质谱仪,用于分析和定量分离样品中的化合物。
液相色谱-紫外/可见光检测器(HPLC-UV/VIS):使用液相色谱联合紫外/可见光检测器,用于分析和定量分离样品中的化合物。
液相色谱-荧光检测器(HPLC-FLR):使用液相色谱联合荧光检测器,用于分析和定量分离样品中的具有荧光性质的化合物。
液相色谱-电化学检测器(HPLC-EC):使用液相色谱联合电化学检测器,用于分析和定量分离样品中的具有电化学性质的化合物。
核磁共振(NMR):通过测量样品中核磁共振信号的频率和强度,用于分析和鉴定样品中的化合物。
红外光谱(IR):利用样品对红外辐射的吸收特性,用于分析和鉴定样品中的化学键和功能团。
紫外-可见光谱(UV-Vis):测量样品对紫外和可见光的吸收或透射特性,用于分析和定量分离样品中的化合物。
质谱(MS):通过测量样品中离子对电流的测定,用于分析和定量分离样品中的化合物。
热重分析(TGA):通过测量样品在升温过程中的质量变化,用于分析样品的热稳定性和含水率。
差示扫描量热法(DSC):通过测量样品在升温过程中与参比物的温度差异,用于分析样品的热性质和热转变。
静电放电(ESD):测量样品的静电放电能力,用于评估样品的防静电性能。
X射线衍射(XRD):通过测量样品对入射X射线的衍射,用于分析样品的晶体结构和晶格常数。
电子显微镜(SEM):利用电子束与样品相互作用的特性,用于分析样品的形态、表面形貌和元素成分。
原子力显微镜(AFM):通过测量样品表面的原子力变化,用于分析样品的形态、表面形貌和纳米级别的力学性质。
纳米颗粒大小测定:利用粒度分析仪或动态光散射仪,测定样品中纳米颗粒的粒径分布。
表面张力测定:通过测定液体在固体上的张力,用于分析样品的表面活性和界面性质。
接触角测定:通过测量液体滴在固体表面上的接触角,用于分析样品的润湿性和表面能。
扫描电镜-能谱分析(SEM-EDS):将扫描电镜和能谱仪结合,用于分析样品的形态和元素成分。
电子探针(EPMA):利用电子束与样品相互作用的特性,用于分析样品的元素分布和化学组成。
迁移性测试:通过模拟实际使用条件,测定物质在材料或产品中的迁移程度。
材料强度测试:测量材料的抗拉强度、压缩强度、弯曲强度等力学性能。
材料硬度测试:评估材料的硬度特性,如洛氏硬度、维氏硬度等。
材料密度测试:测量材料的密度,用于评估材料的质量和容积。
材料粘度测试:测量材料的粘度特性,用于评估材料的流动性。
材料热传导测试:测量材料的热传导能力,用于评估材料的导热性能。
材料电导率测试:测量材料的电导率特性,用于评估材料的导电性能。