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激光粒度分析仪:用于测量细粒的粒度分布。
电子显微镜:可以观察细粒的形态和结构。
X 射线衍射仪:用于分析细粒的晶体结构。
热重分析仪:可检测细粒的热稳定性。
比表面积分析仪:测量细粒的比表面积。
中析研究所可进行各种检测分析服务,包括不限于:标准试验,非标检测,分析测试,认证设计,产品验收,质量内控,矢量分析,内部控制,司法鉴定等。可出具合法合规、具有公信力的第三方检测报告。