扫描电子显微镜（SEM）：用于观察细孔层的表面形貌和结构。
气体吸附分析仪：用于测量细孔层的孔隙大小、分布和表面积。
压汞仪：用于测量细孔层的孔径分布和孔隙率。
X 射线衍射仪（XRD）：用于分析细孔层的晶体结构。
傅里叶变换红外光谱仪（FTIR）：用于分析细孔层的化学组成。
热重分析仪（TGA）：用于分析细孔层的热稳定性和热分解行为。
比表面积分析仪：用于测量细孔层的比表面积。
孔径分析仪：用于测量细孔层的孔径大小和分布。
孔隙率测试仪：用于测量细孔层的孔隙率。
表面粗糙度测试仪：用于测量细孔层的表面粗糙度。
