X 射线衍射仪：用于分析晶体结构和材料的相组成。
扫描电子显微镜（SEM）：用于观察材料的微观结构和表面形貌。
原子力显微镜（AFM）：用于测量材料表面的微观形貌和力学性能。
透射电子显微镜（TEM）：用于观察材料的微观结构和晶体缺陷。
电子背散射衍射（EBSD）：用于分析材料的晶体取向和微观结构。
光学显微镜：用于观察材料的宏观结构和表面形貌。
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中析研究所
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