X 射线荧光光谱仪：可用于检测锡铅面的元素组成和含量。
扫描电子显微镜（SEM）：可用于观察锡铅面的微观结构和表面形貌。
能谱仪（EDS）：可与 SEM 配合使用，用于分析锡铅面的元素分布情况。
原子力显微镜（AFM）：可用于测量锡铅面的表面粗糙度和形貌。
热重分析（TGA）：可用于分析锡铅面的热稳定性和成分变化。
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中析研究所
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