原子力显微镜（AFM）：可用于检测表面膜层的形貌和厚度。
X 射线光电子能谱（XPS）：可用于分析表面膜层的化学成分和化学状态。
扫描电子显微镜（SEM）：可用于观察表面膜层的微观结构。
拉曼光谱：可用于检测表面膜层的分子结构和化学键。
接触角测量：可用于评估表面膜层的润湿性和表面能。
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中析研究所
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