X射线衍射仪（XRD）：
用于测定晶体的晶格常数和晶体结构。
电子衍射仪（TEM）：
用于观察和分析微观尺度下的晶格信息。
扫描电子显微镜（SEM）：
通过扫描样品表面的电子束来观察样品的表面形貌以及晶格信息。
透射电子显微镜（TEM）：
通过透射电子来观察和分析样品的晶格结构和微观物理性质。
原子力显微镜（AFM）：
用于在原子尺度下观察样品的表面形貌和晶格结构。
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中析研究所
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