1. 光学显微镜：用于观察材料表面的杂斑模纹形状、尺寸和分布情况。
2. 扫描电子显微镜（SEM）：可以提供高分辨率的表面形貌图像，用于观察杂斑模纹的微观形态。
3. X射线衍射仪（XRD）：用于分析材料的晶体结构，判断是否存在晶格畸变等与杂斑模纹相关的问题。
4. 电子探针（EDX）：可以通过能谱分析确定样品中杂质元素的化学组成，用于判定杂斑模纹的成因。
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中析研究所
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