无变形晶格检测主要用于晶体材料的研究和分析，以确定其晶格结构是否存在变形或缺陷。
常见的无变形晶格检测对象包括但不限于：
半导体材料：如硅、锗等。
金属材料：如铜、铝等。
陶瓷材料：如氧化铝、氧化锆等。
化合物半导体：如砷化镓、磷化铟等。
光学晶体：如蓝宝石、氟化钙等。
超导体材料：如钇钡铜氧等。
磁性材料：如铁氧体、钕铁硼等。
纳米材料：如纳米管、纳米线等。
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中析研究所
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