1. X射线衍射（XRD）检测方法：
XRD可以用于分析单晶的晶体结构和晶体成分。通过测量X射线的衍射角度和强度，可以确定晶体的晶格参数和晶体结构的空间群。该方法常用于研究和鉴定单晶的晶体结构。
2. 透射电子显微镜（TEM）检测方法：
TEM可以用于观察和分析单晶的晶体形貌、晶格缺陷和晶体结构。通过透射电子显微镜的成像和衍射技术，可以获取高分辨率的晶体图像，并且可以通过选择区域电子衍射（SAED）技术得到晶体的面间距和晶格取向。
3. 傅里叶变换红外光谱（FTIR）检测方法：
FTIR可以用于确定单晶的化学组成和化学键的类型。通过测量样品对红外辐射的吸收特性，可以获取样品的红外光谱图，进而分析样品中的官能团和分子结构。
4. 热差示扫描量热仪（DSC）检测方法：
DSC可以用于测量单晶的热性能和热稳定性。通过在不同温度下对样品进行加热或冷却，并测量样品的热容变化，可以获取样品的热分解温度、熔点和热稳定性等参数。
5. 硬度测试方法：
通过在单晶表面施加一定的力量并测量其产生的压痕大小，可以确定单晶的硬度。常用的硬度测试方法包括维氏硬度测试、洛氏硬度测试和布氏硬度测试等。
