X 射线衍射仪：通过对晶体衍射图谱的分析，确定位错的密度和类型。
电子显微镜：可以直接观察位错的形态和分布。
原子力显微镜：用于检测表面位错的分布和密度。
拉曼光谱仪：通过分析材料的拉曼散射光谱，了解位错对材料结构的影响。
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中析研究所
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