X 射线衍射仪：通过分析晶体的衍射图谱来确定位错宽度。
透射电子显微镜：可以直接观察晶体中的位错结构，从而测量位错宽度。
扫描电子显微镜：用于观察材料表面的微观结构，也可以对位错进行分析。
原子力显微镜：可以测量材料表面的形貌和力学性质，包括位错宽度。
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中析研究所
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