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X 射线衍射仪：用于分析晶体结构和位错密度。
透射电子显微镜：可以直接观察位错的形态和分布。
原子力显微镜：用于检测材料表面的位错。
扫描电子显微镜：可用于观察位错的形貌和分布。
中析研究所可进行各种检测分析服务,包括不限于：标准试验，非标检测，分析测试，认证设计，产品验收，质量内控，矢量分析，内部控制，司法鉴定等。可出具合法合规、具有公信力的第三方检测报告。
