X 射线衍射法：通过分析晶体结构中的衍射峰来检测位错密度和类型。
透射电子显微镜（TEM）：可以直接观察到位错的形态和分布。
原子力显微镜（AFM）：用于测量表面形貌和位错引起的局部应变。
内耗测量技术：通过测量材料在振动或变形过程中的能量损耗来评估位错的运动和交互作用。
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中析研究所
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