电子显微镜观察：通过电子显微镜对材料进行高分辨率的成像，直接观察位错的形态和分布。
X 射线衍射：利用 X 射线衍射技术分析材料的晶体结构，从而推断位错的存在和特征。
原子力显微镜：可以用于检测材料表面的微观结构，包括位错。
中子衍射：对于一些特定的材料，中子衍射可以提供更详细的位错信息。
全站搜索
中析研究所
- 北京总部: 北京市丰台区航丰路8号院1号楼1层121
- 山东分部: 山东省济南市历城区唐冶绿地汇中心36号楼
- 联系在线工程师
- 网站首页 : https://www.yjsshier.com/