X 射线衍射法：通过分析晶体的衍射图谱来检测位错的存在和分布。
电子显微镜法：可以直接观察位错的形态和分布。
原子力显微镜法：能够提供高分辨率的位错图像。
光学显微镜法：适用于较大尺寸的位错检测。
磁力显微镜法：可用于检测磁性材料中的位错。
电阻测量法：根据位错对电阻的影响来检测位错的积聚。
硬度测试法：位错积聚会影响材料的硬度，可通过硬度测试间接检测。
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中析研究所
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