X 射线衍射法：通过分析晶体中 X 射线的衍射图案，确定位错的存在和类型。
电子显微镜法：利用电子束照射样品，观察位错的形态和分布。
原子力显微镜法：通过检测原子间的相互作用力，绘制出位错的图像。
光学显微镜法：在位错处产生特殊的光学效应，从而检测位错。
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中析研究所
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