X 射线衍射法：通过分析衍射图谱来确定位错的存在和分布。
电子显微镜观察：可以直接观察到位错的形态和结构。
原子力显微镜：用于检测位错的表面形貌。
电阻测量：通过测量电阻的变化来间接检测位错。
光学显微镜：在特定条件下可观察到位错。
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中析研究所
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