位错边缘检测主要应用于材料科学和物理学领域，用于检测和分析晶体材料中的位错边缘。
常见的位错边缘检测对象包括但不限于：
金属材料：如钢铁、铝合金等。
半导体材料：如硅、锗等。
陶瓷材料：如氧化铝、氧化锆等。
晶体材料：如石英、蓝宝石等。
高分子材料：如聚乙烯、聚苯乙烯等。
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中析研究所
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