扫描电子显微镜（SEM）：用于观察和分析微夹杂物的形貌、尺寸和分布。
能谱仪（EDS）：可对微夹杂物进行元素分析，确定其成分。
电子探针（EPMA）：用于微区成分分析，可提供微夹杂物的元素分布信息。
X 射线衍射仪（XRD）：可对微夹杂物进行物相分析，确定其晶体结构。
原子力显微镜（AFM）：用于高分辨率表面形貌观察，可对微夹杂物进行三维成像。
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中析研究所
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