光谱分析：通过测量样品发射或吸收的光谱来确定元素的种类和含量。
电子探针分析：利用电子束激发样品表面产生的特征 X 射线来分析元素的分布。
扫描电子显微镜（SEM）：可以观察样品的微观结构和元素分布。
原子力显微镜（AFM）：用于研究样品表面的形貌和微观结构。
X 射线衍射（XRD）：分析样品的晶体结构和相组成。
热分析：如差热分析（DTA）或差示扫描量热法（DSC），用于研究样品的热性能和相变。
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中析研究所
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