再结晶区检测-检测仪器
1. 显微镜:用于观察再结晶区的晶粒形貌和尺寸变化。
2. X射线衍射仪(XRD):用于分析再结晶区的晶体结构和相变。
3. 扫描电子显微镜(SEM):用于观察再结晶区的表面形貌和微观结构。
4. 能谱仪(EDS):与SEM配合使用,用于分析再结晶区中不同元素的成分。
5. 热分析仪(TG/DSC):用于研究再结晶区的热行为,如熔点、热分解等。
6. 可见紫外分光光度计(UV-Vis):用于测量再结晶区的吸收光谱,分析其成分。
7. 红外光谱仪(FT-IR):用于分析再结晶区的分子结构和官能团。
8. 核磁共振仪(NMR):用于确定再结晶区中有机物的结构和化学位移。